A giugno ripartono gli Rfid Italia Award 2010

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Loft Media Publishing (ex Cedites) ha presentato la terza edizione che, quest’anno, si terrà a Roma. Le candidature entro il 5 aprile 2010

Al via la terza edizione dell’Oscar Italiano delle Tecnologie a Radiofrequenza. Quest’anno sarà ospitato dal Lab Id dell’Università La Sapienza di Roma, con il patrocinio di Assoknowledge – Gruppo Tecnologie Identificazione Automatica.

Loft Media Publishing (ex Cedites) ha inaugurato ufficialmente l’Rfid Italia Award 2010. Hanno già aderito il Lab#Id dell’Università Carlo Cattaneo – LIUC. l’Rfid Solution Center del Politecnico di Milano, il Wireless and Rfid Laboratory dell’Università degli Studi di Messina, l’Rfid Lab dell’Università degli studi di Parma e il Leml dell’Università del Salento, il Laboratorio WISE – Wireless Identification and Sensing dell’Università di Genova e il Laboratorio di Riconoscimento di Forme e Applicazioni dell’Università di Cagliari.

La cerimonia di premiazione si terrà il 23 giugno del 2010 a Roma, presso la Sala del Tempio di Adriano della Camera di Commercio di Roma. Nel 2009 l’evento ha raccolto oltre 50 candidature di alto profilo e più di 250 partecipanti alla cerimonia di premiazione, celebrata nella prestigiosa cornice del Centro Congressi Ville Ponti di Varese. La partecipazione all’Rfid Italia Award 2010 è gratuita.

Sono ammessi a partecipare i progetti realizzati da centri di ricerca (esclusi quelli che fanno parte del Comitato Scientifico del premio), pubbliche amministrazioni e aziende italiane e straniere, applicati in tutto o in parte sul territorio della Repubblica Italiana.

Il Comitato Scientifico premierà il miglior progetto in quattro categorie distinte: Progetti Aziendali Interni, Progetti di Filiera, Progetti di Rilevanza Sociale e Ambientale e Idee.

Il termine della presentazione della candidatura è il 5 aprile 2010. Gli interessati possono procurarsi il modulo di partecipazione e il bando completo sul nuovo sito web dedicato all’evento, all’indirizzo www.rfiditaliaaward.com.

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